学术讲座 | 王英博：改进Yolov5s对印制电路板的缺陷检测

        2024年6月5日下午3点，信息与智能工程学院计王英博教授为本校相关专业的本科及硕士生开展了一场改进Yolov5s对印制电路板的缺陷检测为主题的学术讲座。

        在本次讲座中，王英博教授介绍了当前PCB 缺陷检测技术方法主要分为传统方法和深度学习两个方向。简述了传统检测方法的缺点。重点介绍了YOLO算法的发展过程，分析了YOLOv1-YOLOv5算法的优缺点，提出了Yolov5s的改进算法，阐述了改进过程，并经与改进前算法及相关算法的对比验证，证明了改进后的算法的优越性。如该算法应用生产实践，会大大提高了PCB检测的速度和准确率。

        本次学术讲座的举办对学校本科、硕士生对PCB检测技术领域的认识有着重大意义，它深化了师生对PCB检测技术的理解，拓展学生对PCB检测技术的视野，为师生们提供了一个深入交流与学习的机会。